壓敏電阻采購(gòu),就選源林電子,品類豐富
ZnO是六方晶系纖鋅礦結(jié)構(gòu),其化學(xué)鍵處于離子鍵與共價(jià)鍵的中間鍵型狀態(tài),氧離子以六方密堆,鋅離子占據(jù)一半的四面體空隙,鋅和氧都是四面體配位。ZnO是相對(duì)開(kāi)放的晶體結(jié)構(gòu),開(kāi)放的結(jié)構(gòu)對(duì)缺陷的性質(zhì)及擴(kuò)散機(jī)制有影響,所有的八面體間隙和一半的四面體間隙是空的,正負(fù)離子的配位數(shù)均為4,所以容易引入外部雜質(zhì),ZnO熔點(diǎn)為2248,密度為5.6g/cm3,純凈的ZnO晶體,其能帶由02-的滿的2p電子能級(jí)和Zn2+的空的4s能級(jí)組成,禁帶寬度為3.2~3.4eV,因此,室溫下,滿足化學(xué)計(jì)量比的純凈ZnO應(yīng)是絕緣體,而ZnO中常見(jiàn)的缺陷是金屬填隙原子,所以它是金屬過(guò)剩(Zn1+xO)非化學(xué)計(jì)量比n型半導(dǎo)體。
Eda等認(rèn)為,在本征缺陷中,填隙鋅原子擴(kuò)散快,對(duì)壓敏電阻穩(wěn)定性有很大影響。
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氧化鋅壓敏電阻在交流電壓作用下的老化:
當(dāng)施加交流電壓一定時(shí)間后,氧化鋅壓敏電阻的U-I特性曲線發(fā)生對(duì)稱變化,除了特性曲線的變化是對(duì)稱的特點(diǎn)外,改變的趨勢(shì)與施加直流電壓的趨勢(shì)相近。試驗(yàn)時(shí)所施加的交流電壓梯度為65V/mm,溫度為70℃。試驗(yàn)還表明,不論是直流還是交流作用電壓,老化試驗(yàn)后壓敏電阻U-I 特性在預(yù)擊穿區(qū)(即低電場(chǎng)區(qū)域)的變化程度要比擊穿區(qū)即(中電場(chǎng)區(qū)域)大得多。
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壓敏電阻采購(gòu),就選源林電子,自有研發(fā)隊(duì)伍
壓敏電阻器在電路的過(guò)電壓防護(hù)中,如果正常工作在預(yù)擊穿區(qū)和擊穿區(qū),理論上是不會(huì)損壞的。但由于壓敏電阻器要長(zhǎng)期承受電源電壓,電路中暫態(tài)過(guò)電壓、超能量過(guò)電壓隨機(jī)的不斷沖擊及吸收電路儲(chǔ)能元件釋放能量,因此,壓敏電阻器也是會(huì)損壞的它的壽命根據(jù)所在電路經(jīng)受的過(guò)電壓幅值和能量的不同而不同。
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